數(shù)字電路多參數(shù)篩選測(cè)試儀

本系統(tǒng)的主要特點(diǎn)

測(cè)試范圍及測(cè)試品種：28Pin

　54系列； 74系列；

　4500系列；4000系列；

　RAM 256K BIT

　EPROM 64K BIT

　C00 系列；

產(chǎn)品主要性能

產(chǎn)品主要性能：

　在功能測(cè)試的基礎(chǔ)上 測(cè)試器件的輸入端注入電流。

　測(cè)試器件的功耗電流。

　測(cè)試器件的輸入端交叉漏電流。

　查找未知芯片型號(hào)。

　測(cè)試器件的輸出端：三態(tài)“及”OC“門(mén)。 可以單次測(cè)試，也可以循環(huán)測(cè)試。

　測(cè)試器件的輸出負(fù)載電流。

　可自動(dòng)識(shí)別74系列中的CMOS（如：74C，74HC，74HCT等）。

本產(chǎn)品所提供的多值測(cè)試參數(shù)

本產(chǎn)品所提供的多值測(cè)試參數(shù)：

　8種可選擇的測(cè)試電阻。

　 可設(shè)置多種輸入端注入電流。

　 多種測(cè)試電壓比較值。

　 功耗測(cè)試。

　 以上參數(shù)的不同組合構(gòu)成的測(cè)試模式，其中包括用戶(hù)自定義模式及全組合測(cè)試模式。

測(cè)試模式：

　模式O：全組合參數(shù)測(cè)試。

　模式1-C：操作與模式O相同，但各有其不同的測(cè)試參數(shù)數(shù)值。

　模式D：任選輸入負(fù)載電流及測(cè)試電源和輸入電流測(cè)試。

　模式E：自檢。內(nèi)容包括計(jì)算機(jī)部分，顯示，鍵盤(pán)及測(cè)試管腳電路。

　模式F：自編程測(cè)試.